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Carl Zeiss IQS Deutschland GmbH

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31.07.2024 01:07

ZEISS O-INSPECT duo

Microscópio e aparelho de medição num só

O ZEISS O-INSPECT duo oferece duas tecnologias numa só máquina:

Peças de trabalho grandes, como placas de circuito, células de combustível ou baterias, podem ser inspecionadas metrologicamente e em alta resolução sem cortes. A combinação de tecnologia de medição 3D e inspeção microscópica aumenta a eficiência e economiza espaço em laboratórios de qualidade. O ZEISS O-INSPECT duo está disponível no tamanho 8/6/3.

2 em 1: Microscópio e dispositivo de medição numa só máquina
Medições 3D rápidas e precisas - ópticas e tácteis
Ótica de alta resolução com software de inspeção adicional ZEISS ZEN core


O primeiro sistema multi-tecnologia da ZEISS

O ZEISS O-INSPECT duo é um microscópio de medição que cobre duas áreas essenciais de aplicação na garantia de qualidade: Medição precisa e inspeção de alta resolução de componentes grandes ou muitos componentes pequenos. O dispositivo também foi especialmente desenvolvido para aplicações que requerem uma combinação de medição e inspeção tridimensional - incluindo segmentação, costura e processamento de imagem na imagem a cores. Os laboratórios de qualidade precisam agora apenas de uma máquina em vez de um dispositivo de medição e um microscópio, o que poupa espaço e custos de sistema. Descubra que outras vantagens o dispositivo multifuncional traz para as respectivas áreas.

 

Tecnologia de medição Microscopia
Medições de alta precisão - tácteis e ópticas

Alta precisão para peças planas e sensíveis
O ZEISS O-INSPECT duo é um dispositivo de medição multissensor e impressiona com sua ótica de alta resolução emparelhada com o sensor de varredura tátil VAST XXT da ZEISS. O sensor tátil permite medições 3D rápidas e precisas, capturando um grande número de pontos de medição num único movimento.

Componentes sensíveis podem ser medidos sem contacto usando o ZEISS O-INSPECT duo - com excelente precisão e uma redução significativa no tempo de medição graças ao ZEISS VAST probing (ZVP). Isso é possível graças à alta resolução a uma distância de trabalho muito grande, não apenas para peças planas ou amostras.

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