Comet Yxlon GmbH

• Série: Série FF
• Indústria: Automóvel, Eletrónica, Aeroespacial, Ciência e investigação, Semicondutores, Fabrico adicional
• Tamanho do defeito: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Tamanho da peça: tamanho pequeno, tamanho médio
• Modo de funcionamento: 3D, 2D/3D, metrologia

• Análises precisas de materiais em aplicações laboratoriais
• visibilidade de detalhes 2D de até 150 nm com tubo de transmissão de 190 kV
• Manipulação precisa e estabilidade de temperatura através da base de granito
• Interface gráfica de utilizador intuitiva Geminy com ecrãs tácteis
• Versão metrológica opcional com um MPESD = 3,9 µm + L/75 [L em mm]
• Ensaios não destrutivos com alta energia

Quanto mais pequenos se tornam os componentes, mais importante se torna a realização de exames de raios X e de TC altamente precisos e fiáveis para a garantia de qualidade, controlo de processos e inspecções de pequenas séries. Os sistemas de alta resolução extremamente compactos Comet Yxlon FF20 CT e FF20 CT Metrology foram concebidos especificamente para a inspeção de peças muito finas e estruturas internas. Com uma energia comparativamente elevada de 190 kV, mesmo os artigos densos podem ser analisados até ao mais ínfimo pormenor.

• Componentes electrónicos incl. SMD
• Pacotes de semicondutores
• Células de bateria
• Plásticos moldados por injeção
• Produtos que envolvem novos materiais ou novos métodos de fabrico, por exemplo, componentes fabricados aditivamente, plásticos reforçados com fibras
• Microssistemas (MEMS, MOEMS)
• Objectos médicos, por exemplo, cânulas
• Amostras geológicas, paleontológicas e biológicas

• Garantia de qualidade, análise de materiais, investigação de materiais
• Análise de falhas e estruturas
• Controlo de montagem
• Inspeção de pequenas produções em série
• Controlo de processos
• Digitalização
• Segmentação