Comet Yxlon GmbH

• Série: Série FF
• Indústria: Automóvel, Eletrónica, Aeroespacial, Ciência e investigação, Fundições, Semicondutores, Fabrico adicional
• Tamanho do defeito: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Tamanho da peça: tamanho pequeno, tamanho médio, tamanho grande
• Modo de operação: 3D, 2D/3D, metrologia

• Configuração de tubo simples ou duplo para maior versatilidade em aplicações de micro-CT de laboratório
• Alternar entre tubos de micro-foco de 225 kV e nano-foco de 190 kV em segundos com o toque de um único botão
• Resultados exactos devido à manipulação baseada em granito e ao ar condicionado
• Flexibilidade de aplicação devido a várias trajectórias de TC e extensões FoV através da plataforma de software Geminy
• Versão metrológica opcional com um MPESD = 5,9 µm + L/75 [L em mm]
• Disponível como versão FF35 CT SEMI em conformidade com as normas do mercado de semicondutores

Inspeção flexível de peças muito pequenas a médias
O Comet Yxlon FF35 CT, FF35 CT Metrology e FF35 CT SEMI cobrem uma extraordinária gama de aplicações. As capacidades incluem testes de materiais melhorados no departamento de I&D, otimização do controlo de processos e inspeção de pequenas séries, bem como várias aplicações científicas. A configuração de tubo de raios X duplo permite que o sistema de TC de alta resolução expanda significativamente a garantia de qualidade e as possibilidades de investigação nas indústrias automóvel, eletrónica, aeronáutica e de ciência dos materiais.

• Componentes electrónicos, incluindo SMD
• Produtos que envolvem novos materiais ou novos métodos de fabrico, por exemplo, componentes fabricados aditivamente, plásticos reforçados com fibras
• Células e módulos de bateria
• Plásticos moldados por injeção
• Microssistemas (MEMS, MOEMS)
• Objectos médicos, por exemplo, cânulas
• Peças fundidas de ligas leves
• Amostras geológicas, paleontológicas e biológicas

• Garantia de qualidade, análise de materiais e investigação
• Análise de falhas e estruturas
• Controlo de montagem
• Inspeção de pequenas produções em série
• Controlo de processos
• Digitalização
• Segmentação