Dirk Steiner, Gerente de Desenvolvimento de Negócios da Yxlon, tem estado intensamente envolvido com tomografia computadorizada industrial desde 2004 e já digitalizou e analisou mais de 1.000 conjuntos de dados. Aqui você tem a oportunidade de assistir à gravação do webinar de Metrology Live de hoje pela GIE Media e ouvir como tarefas de metrologia exigentes são resolvidas de forma confiável com a tomografia computadorizada. Yxlon esteve presente junto com fabricantes de outras tecnologias relacionadas à metrologia para fornecer uma visão abrangente das soluções.

Dirk falou sobre as últimas tendências em metrologia usando tomografia computadorizada industrial (TC) e como os dados são a chave para obter as informações que os fabricantes precisam para aumentar a eficiência e reduzir os custos. O mais importante para os fabricantes é a alta qualidade dos seus produtos. Na "mesa redonda", cinco participantes discutiram como as suas soluções podem ajudar os produtores a alcançar este objectivo. Contudo, medir e analisar estruturas internas só é possível com o CT.

Em resposta a uma das questões colocadas, Dirk disse: "O CT é um método não-tátil, por isso não mudamos a geometria no processo". Podemos ver as estruturas internas, e com a grande tendência atual para a fabricação de aditivos, não há limites para o que você pode projetar e imprimir. Com o CT, podemos olhar para dentro e medir coisas que estão abaixo ou até mesmo escondidas dentro da peça. Além disso, também obtemos dados de defeitos, defeitos internos, que em si não têm nada a ver com metrologia. Então estamos a matar dois coelhos com uma cajadada só"